|
光學(xué)測(cè)量>顯微 -Xb]=Yf- >LRt,.hy6 任務(wù)/系統(tǒng)視圖 Ox#%Dm2 S;[9
hI+ LS}dt?78`V 6lpfk& 亮點(diǎn) 4{7O}f GcmN40 v,#*%Gn`% b`)^Ao: 顯微鏡系統(tǒng)中光柵的全矢量分析 Wt*&_+ae 在幾秒鐘內(nèi)對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)進(jìn)行快速高性能分析 o|FRG{TJ 光線追跡和物理光學(xué)建模之間的簡(jiǎn)單切換 -$yNJ5F` t:X\`.W 說(shuō)明:光源 S7vT= $yS7u EW7heIT$ }%Dsy2:y S4508l jr29+> 說(shuō)明:透鏡系統(tǒng) `'H"|WsT G'T/I\tB q|xJ)[AO 說(shuō)明:樣品結(jié)構(gòu) -*t4(wT|j 1'@/jR ve;#o< K"B2
SsC 說(shuō)明:探測(cè)器 =QXLr+
y@ H*BzwbM? /X>Fn9mM `&xo;Vnc T>,3V:X cD5c&+,&I 結(jié)果:3D光線追跡 r*CI6yP .cJWYMC 1D159
|