光學測量＞顯微 ^fKKsfIf  
(B` NnL$  
任務/系統(tǒng)視圖 b$2=w^*  
K14.!m  
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A]"6/Lr9P  
亮點 ,8*A#cT B  
@yGnrfr  
7'+`vt#E  
EW]DzL3  
 顯微鏡系統(tǒng)中光柵的全矢量分析 N_D=j6B  
 在幾秒鐘內對復雜系統(tǒng)進行快速高性能分析 oxFd@WV5  
 光線追跡和物理光學建模之間的簡單切換 K;/f?3q  
.NdsKhg b  
說明：光源 {X,-T&  
CV|Ae [  
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OY"BaSEOw}  
PM*lnd#J  
說明：透鏡系統(tǒng) wOUCe#P|r  
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-0(+a$P7e  
說明：樣品結構 >a@1y8B  
G} [$M"}  
lxTqGwx  
34k(:]56|  
說明：探測器 mC]Krnx  
_u-tRHh|A  
v'L"sgW6I  
gd3MP^O1  
7<jr0)  
!OV+2suu1  
結果：3D光線追跡 7OZ0;fK  
BI2'NN\  
'o]}vyz;  
g3n>}\xG>  
Jv2V@6a(  
3rh t5n2-  
結果：光線追跡 (4l M3clF  
_uh@fRyh  
),;h  
=w7k@[Bq  
結果：光線追跡衍射級數(shù) .Xta;Py|J  
!H^R_GC  
yaj1nq!*"  
C/"Wh=h6  
結果：場追跡采樣平面 ku v<  
Y0'~u+KS`5  
NnZ_x>R  
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