探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。 1lsLJ4P  

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探針臺(tái)應(yīng)用范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測試，IC設(shè)計(jì)等 @m?QR(LJ  
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激光探針臺(tái)測試內(nèi)容： Q.Aw2  
1. 微小連接點(diǎn)信號(hào)引出 0I{
gJSK.,  
2. 失效分析失效確認(rèn) E0/mSm"(T  
3. FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn) 0A:n0[V:]  
4. 晶圓可靠性驗(yàn)證 s!9dQ.  
5. 激光打標(biāo) @Eb2k!T  
6. 表層修復(fù)線路 $o