探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。 E3p3DM0F$  
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探針臺應(yīng)用范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測試，IC設(shè)計等 v#HaZT]u  
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激光探針臺測試內(nèi)容： dn"&j1@KY  
1. 微小連接點信號引出 `|t X[':  
2. 失效分析失效確認 $p(,Qz(.8  
3. FIB電路修改后電學(xué)特性確認 7tEK&+H`  
4. 晶圓可靠性驗證 SO~]aFoYt  
5. 激光打標(biāo) (