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摘要 CzT_ $v_
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干涉測量法是光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 ^9kdd[
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 c:}K(yAdd 9a .[>4} 建模任務(wù) qxD<mZ@-R0 %;G!gJeE
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x[%% )[d 元件傾斜引起的干涉條紋 S[uHPYhlA :: 8E?c
 !? )iP <lLk (fC 元件移動引起的干涉條紋 J15$P8J
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− 非序列追跡的通道設(shè)置[用戶案例] ?|Mmz@
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