芯片失效分析領(lǐng)取點(diǎn)列表芯片失效分析領(lǐng)取點(diǎn)列表 彩頁自取點(diǎn):2021年3月17-19日 上海新國際博覽中心 入場無需核酸檢測證明
彩頁主要內(nèi)容為失效分析項(xiàng)目Decap;X-Ray;3D X-Ray;SAT;IV;FIB;EMMI;SEM;EDX;OM;Probe;切割制樣;Rie;定點(diǎn)研磨;非定點(diǎn)研磨;高溫存儲;低溫存儲等介紹。 北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測檢驗(yàn)中心(簡稱:北軟檢測)成立于2002 年7月,是經(jīng)北京市編辦批準(zhǔn),由北京市科學(xué)技術(shù)委員會和北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月,國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局批準(zhǔn)在北軟檢測基礎(chǔ)上籌建國家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(簡稱:國軟檢測),2004年10月國軟檢測通過驗(yàn)收并正式獲得授權(quán),成為我國第一個國家級的軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。 智能產(chǎn)品檢測實(shí)驗(yàn)室,能夠依據(jù)國際、國內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施檢測工作,開展從底層芯片到實(shí)際產(chǎn)品,從物理到邏輯全面的檢測工作,提供芯片預(yù)處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點(diǎn)激光注入等安全檢測服務(wù),同時可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象,找出失效原因的失效分析檢測服務(wù),主要包括點(diǎn)針工作站(Probe Station)、反應(yīng)離子刻蝕(RIE)、微漏電偵測系統(tǒng)(EMMI)、X-Ray檢測,缺陷切割觀察系統(tǒng)(FIB系統(tǒng))等檢測試驗(yàn)。實(shí)現(xiàn)對智能產(chǎn)品質(zhì)量的評估及分析,為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應(yīng)用提供質(zhì)量保證。 參展單位簡介: 英鉑科學(xué)儀器(上海)有限公司 馮明龍 18866607706 山東華芯半導(dǎo)體有限公司 韓云水 15553139386 華芯公司起步于2008年,正值中國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展觀望期,走到一條從無到有探索之路。2015年以前,根據(jù)省政府“先兩頭、后中間“戰(zhàn)略部署,華芯采取自主構(gòu)建產(chǎn)業(yè)鏈模式探索發(fā)展路徑,之后依據(jù)自身實(shí)際積極進(jìn)行戰(zhàn)略調(diào)整,經(jīng)過近十年發(fā)展,已成為中國領(lǐng)先的固態(tài)硬盤主控芯片和解決方案供應(yīng)商。 三河建華高科有限責(zé)任公司 陶永軍 13911284962 |