|
摘要 -Ze2]^#dl ?O
e, 白光干涉測(cè)量法是一種非接觸式技術(shù),用于精確測(cè)量,例如表面輪廓和微小位移。使用邁克爾遜干涉儀設(shè)置和氙燈光源,在VirtualLab Fusion中演示了白光干涉測(cè)量?紤]到光源的光譜特性,即有限的相干長(zhǎng)度,結(jié)果顯示僅當(dāng)兩個(gè)臂的路徑長(zhǎng)度幾乎相同時(shí)才出現(xiàn)干涉圖案。 ?
i|LO [ 3SbWwg #5IfF~*i 1. 建模任務(wù) D
z>7.'3 |Tl2r,(+R 2. 干涉條紋的變化 /@s(8{; o:/ymeG u@[JX1&3"n 3. VirtualLab Fusion概覽 9fqCE619a AUkePp78 T
3+lYE 4. VirtualLab Fusion中的工作流程 /kd6Yq(y 設(shè)置輸入場(chǎng) X9uYqvP\( - Basic Source Models [教程視頻] -+|{#cz 定義組件的位置和方向 +Xr87x; - Basic Source Models [教程視頻] 0(!=N1l 正確設(shè)置通道以進(jìn)行非順序跟蹤 =g^JJpS - Basic Source Models [使用案例] bcprhb 使用參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化 :,dO7dJi - Usage of the Parameter Run Document [用例] <NX6m|DD 9"k^:}8. Wp$'#HhB :E9
|