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摘要 ]lA.? 5mg] su 高NA物鏡廣泛用于光學(xué)光刻,顯微鏡等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考慮光的矢量性質(zhì)。 使用VirtualLab對這種鏡頭進(jìn)行光線追跡和場追跡分析非常方便。通過場追跡,可以清楚地展示不對稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。相機(jī)探測器和電磁場探測器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,可以讓用戶深入了解矢量效應(yīng)。 <v$yXA ;w^{PZBg wu19Pg?F 7jYW3 建模任務(wù) &u0on)E E7j9A` B8 R&Q8Q 概觀 qWw{c&{Q], ef]60OtP O*PJr[Zou 光線追跡仿真 eG%Q
3h B/bS: •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為仿真引擎。 kcZz WG|n ;1>)p x** •點(diǎn)擊Go! k>!A~gfP~ •獲得3D光線追跡結(jié)果。 lU%
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