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    [分享]馬赫澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-06-17
    摘要 - O"i3>C  
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    干涉測量法是一項用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 24Z]%+b*E  
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    建模任務(wù)  q{die[J  
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    由于組件傾斜引起的干涉條紋 $KjTa#[RX7  
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    由于偏移傾斜引起的干涉條紋 kl1Y] ?z}  
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