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摘要 G*mk 19Z \NS\>Q+d
A/W0O;*q %-i2MK'A 干涉測量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個(gè)典型示例,在非序列場追跡技術(shù)的幫助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對(duì)干涉條紋圖的影響。 ; @-7'%(C <:2El9l! 建模任務(wù) Obrv5%'
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7$a,pNDw BE:HO^-.1 由于組件傾斜引起的干涉條紋 ((N<2G) pz6fL=Xd
^|Of !TVlsm 由于偏移傾斜引起的干涉條紋 +S5"4< 7d]}BLpjWz
4W*52*'F, C3u/8Mrt7 文件信息 BEx?
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0[7\p\Q PR|F-/o mMS%O]m,| QQ:2987619807 D4ESo)15'
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