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摘要 l;-2hZ *`a$6F7m4 干涉測(cè)量法是光學(xué)計(jì)量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個(gè)典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場(chǎng)追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 !(*&P C eEhe
oc?|" =svFw&q" 建模任務(wù) 9KK^1<46c ;CO qu#( "8Dm7)nB `.@udfog^0 元件傾斜引起的干涉條紋 yp~z-aRa ^"Bhp:o2
r'noB<|e ru:"c^W:[ 元件移動(dòng)引起的干涉條紋 Q8m~L1//S O0}uY:B
^*jwe^ hy/g*> 走進(jìn)VirtulLab Fusion y,?=,x}o# HOi~eX1d
x@X2r 5,xPB5pK VirtualLab Fusion工作流程 Up
Z 9g" 4EYD5 −基本源模型[教程視頻] z/#,L!Z3
- 設(shè)置組件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程視頻]
- 設(shè)置組件的非序列通道
− 非序列追跡的通道設(shè)置[用戶案例] E"}%$=yK !S~)U{SSK
7,)E1dx -V V;^-EWNj VirtualLab Fusion技術(shù) cO:lpsKYQ rzdQLan
"=2\kZ tk0m[HN@eV 文件信息 {~&] H2iIBGu|L
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