如果可以可靠地預(yù)測(cè)材料的特性，那么為大量行業(yè)開(kāi)發(fā)新產(chǎn)品的過(guò)程就可以被簡(jiǎn)化和加速。在發(fā)表在《先進(jìn)智能系統(tǒng)》上的一項(xiàng)研究中，來(lái)自東京大學(xué)工業(yè)科學(xué)研究所的研究人員利用機(jī)器學(xué)習(xí)，用磁芯損耗光譜學(xué)來(lái)確定有機(jī)分子的特性。 XdEPbD-  
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光譜技術(shù)能量損失近邊結(jié)構(gòu)（ELNES）和X射線近邊結(jié)構(gòu)（XANES）被用來(lái)確定材料中電子的信息，并通過(guò)它確定原子。它們具有高靈敏度和高分辨率，已被用于研究從電子設(shè)備到藥物輸送系統(tǒng)的一系列材料。
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