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本文的目的是介紹FRED的材料性質(zhì)方面一些高級的設(shè)定,這些設(shè)定共分成以下幾個(gè)部份。 Z29LtKr 雙折射晶體和偏振光干涉 Ii<k<Bt, 光源偏振設(shè)置 IaKJ W? 雙折射材料方向和其他設(shè)定 YF>15{H 干涉結(jié)果和光線性質(zhì)查看 Eqi;m,) 漸變折射率(GRIN)材料 5s@xpWVot 腳本設(shè)置漸變折射率材料 F$i 6 定性模擬結(jié)果 n@6vCdk. u8gqWsvruM 雙折射晶體和偏振光干涉 s>%.bAxc @d:GtAW 偏振光干涉現(xiàn)象在實(shí)際中有很多應(yīng)用,這里要模擬的是一種典型的雙折射干涉實(shí)驗(yàn),設(shè)置如下圖所示:左側(cè)是偏振光源,偏振方向是在xy平面且與x軸夾角45度,所有光線的反向延長線指向一點(diǎn)。接下來光線經(jīng)過方解石平板,厚2mm,光軸方向沿z 軸。然后光線通過偏振片,偏振片方向與光源方向垂直(xy 平面,與x 夾角-45度),偏振片是通過設(shè)置偏振鍍膜來實(shí)現(xiàn)的。最右邊是接收分析面,光線在這里停止,用來計(jì)算光強(qiáng)。 pu_?)U @$nh6l>i 圖1. 系統(tǒng)設(shè)置 ;@
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