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    [技術(shù)]馬赫-澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2022-10-31
    干涉測量法是光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度機械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 MZ+e}|!4,  
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    建模任務(wù) OTZ_c1"K  
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    元件傾斜引起的干涉條紋 i!~'M;S  
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    元件移動引起的干涉條紋 "g+z !4b#  
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