干涉測量法是
光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高
精度的
機械和熱變形。 作為一個典型示例，在
VirtualLab Fusion中借助非
序列場追跡，構(gòu)建了具有相干
激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了
光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。
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y11/:| L=. 4x=%% 建模任務(wù) ?:Y0#Btj M>mk=-l 
FN#6pM']| KPGX/l 元件傾斜引起的干涉條紋 I[~EQ {Iz {[~
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