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    [技術(shù)]馬赫-曾德爾干涉儀 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2022-12-20
    (5T>`7g8  
    干涉測量是一種光學計量的重要技術(shù)。 它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 z{XB_j6\=  
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    元件傾斜引起的干涉條紋 Tm %5:/<8  
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    元件移位引起的干涉條紋 H,> }t S  
     
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    只看該作者 1樓 發(fā)表于: 2022-12-20
    這個圖好像在哪看到過啊