'm O2t~n 傳統(tǒng)意義上，Essential Macleod的設計是由一系列完全干涉的
薄膜組成，并只在基板的一側形成膜層。而Stack是由一組膜層和基板組成，基板的兩個面是平行的，以便在相同
材料中傳播角度相同。Stack中，膜層被介質（或基底）分開，介質（或基底）由其材料和厚度定義。入射介質和出射介質是半無限的，但其它介質的厚度都是有限的。另一方面，膜層是繼續(xù)支持完全一致性，即完全干涉。這通常是真實膜層和基底的情況，即考慮基板后表面反射或者鍍膜的情況。
mP-2s;q <v$QM;Ff 為什么介質或基板不支持干涉？這是一個
系統(tǒng)問題�；宓暮穸韧ǔＲ院撩锥皇�
納米來測量，因此路徑差異非常長。入射角、
波長和厚度的微小變化，雖然對路徑差異的比例效應很小，但對它們所代表的相位變化有很大影響，因為許多波長都涉及到這些路徑差異。當各種
光線組合在一起時，干涉條紋會被沖掉，只留下總的輻照度。在單個設計文檔時，我們總是假設使用完全準直的單色光，其中入射角和波長變化的相應影響通常很小，可以忽略不計，從而在設計中存在完全相干效應。
&1GUi{I 圖1.基板足夠厚時，無需考慮干涉效應。如果考慮基板的干涉，要將基板看成一層薄膜，而整個系統(tǒng)看作一個膜系
s;{K!L@ 70Ka! 另一個問題是，如果角度或波長的變化仍然較大，即使設計中的層也顯示出減少的干涉效應，那么會發(fā)生什么，什么叫做部分相干？此工具存在于Stack文檔中。計算
參數(shù)包括光中缺少準直性（以圓錐半角表示）和缺少單色性（以
光譜帶寬表示）的影響。這些在Design文檔中不可用（除非在Stack中設置，稍后將介紹）。
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