白光干涉測(cè)量法是一種非接觸式技術(shù)，用于精確測(cè)量，例如表面輪廓和微小位移。使用邁克爾遜干涉儀設(shè)置和氙燈光源，在VirtualLab Fusion中演示了白光干涉測(cè)量�？紤]到光源的光譜特性，即有限的相干長(zhǎng)度，結(jié)果顯示僅當(dāng)兩個(gè)臂的路徑長(zhǎng)度幾乎相同時(shí)才出現(xiàn)干涉圖案。 XLt/$Caf  
 RbTGAA  
{\D&
*  
1. 建模任務(wù) XQ}J4J~Vm  

p?y2j  
2. 干涉條紋的變化 c%/b*nQ(=  
'JMW.;Lh?X  
3. VirtualLab Fusion概覽 g=$U&Hgs  
g77M5(ME  
     ESRj<p%W  
4. VirtualLab Fusion中的工作流程 aYaEy(m  
 設(shè)置輸入場(chǎng) [[IMf-]  
"a)6g0gw  
 定義組件的位置和方向 iibG$?(  
hU""YP~y  
 正確設(shè)置通道以進(jìn)行非順序跟蹤 \t7yH]:>@  
qX-ptsQ  
 使用參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化 4n1g4c-