BiwieF4x  
（GPU光線追跡和分析）> 支持的功能 ;xYNX  
`#mK*Buem}  
概要 c64v,Hj9  
    實(shí)體分析 K>/%X!RW  
    表面分析 B 0ee?VC  
    探測(cè)器實(shí)體
,)FdRRj  
    方向分析實(shí)體 3gZ8.8q3  
    結(jié)果節(jié)點(diǎn)分析 <|B1wa:|  
    膜層 ,e722wz  
    分布計(jì)算 P9Q~r<7n  
    幾何體 nY%5cJ`"  
    表面 UUe#{6Jx_  
    表面屬性 XGrue6ya  
    非表面幾何體節(jié)點(diǎn) N)2f7j4C&  
    關(guān)鍵字 -~{c u47_  
    數(shù)值精度 zYER  
    光線 ?~e
3&ux  
    光線類型 u{<"NR h  
    光線屬性 3VO2,PCZ  
    光線追跡路徑 (!L5-8O  
    光線追跡屬性 :mppv8bh  
    散射 yay<GP?  
    散射模型 \nNXxTxX!  
    重點(diǎn)采樣 K>Fqf +_  
    腳本 Sjj>#}U  
    光源 =T?}Nt  
    光譜 "r4AY  
    表面粗糙度 - YqYcer  
N"tFP9;K  
分析實(shí)體                                                       F9"w6;hh  
分析表面 $ ,Ck70_  
GPUs不支持并會(huì)忽略分析表面。當(dāng)在GPUs使用光線追跡時(shí)，應(yīng)該使用平面類型探測(cè)器實(shí)體而不是分析表面。 9m2, qr|  
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探測(cè)器實(shí)體 )-