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    [技術(shù)]高NA物鏡聚焦的分析 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-01-18
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    高NA物鏡廣泛用于光學(xué)光刻,顯微鏡等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考慮光的矢量性質(zhì)。 使用VirtualLab對(duì)這種鏡頭進(jìn)行光線追跡和場(chǎng)追跡分析非常方便。通過場(chǎng)追跡,可以清楚地展示不對(duì)稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,可以讓用戶深入了解矢量效應(yīng)。 }ZqnsLu[)  
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    建模任務(wù) uE &/:+  
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    概觀 7H])2:)  
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    光線追跡仿真 3-Bz5sj9  
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    •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為仿真引擎。 l~ Hu#+O  
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    •點(diǎn)擊Go! B=}s7$^  
    •獲得3D光線追跡結(jié)果。 LK|1[y^h  
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    光線追跡仿真 l@:&0id4I  
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