-
UID:317649
-
- 注冊時間2020-06-19
- 最后登錄2024-11-15
- 在線時間1524小時
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
在半導體產(chǎn)業(yè)中,晶片檢測系統(tǒng)用于檢查晶片上的缺陷并找到它們的位置。為保證微結(jié)構(gòu)的圖像解析度,檢測系統(tǒng)常使用一個高NA的物鏡,工作在紫外波長范圍。作為一個例子,模擬了一個完整的晶片檢測系統(tǒng),包括高NA聚焦效應和光與微結(jié)構(gòu)的互作用,并演示了圖像的形成。 ;Dp*.YJ XX90Is Ws0)B8y,| 建模任務 !mqIq}h 2^`k6V! ndDF(qHr 結(jié)果 ^CQp5k
|