斐索干涉儀是工業(yè)上常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形表面。結(jié)果表明，表面輪廓對(duì)干涉條紋的產(chǎn)生是敏感的。

建模任務(wù)

測(cè)試表面

非序列追跡

通用探測(cè)器和探測(cè)器附加組件

總結(jié)-組件…

觀測(cè)下的傾斜平面

被觀測(cè)圓柱面

被觀測(cè)球面