|
|
摘要 u~a<Psp&| m #'u;GP]k
組件內(nèi)部光場(chǎng)分析器： FMM使用戶能夠研究微觀和納米結(jié)構(gòu)內(nèi)的電磁場(chǎng)分布。為此，通過(guò)應(yīng)用傅里葉模態(tài)法/嚴(yán)格耦合波分析（FMM/RCWA）計(jì)算任意周期結(jié)構(gòu)，包括透射和反射光柵、介電或金屬光柵。也可以指定領(lǐng)域的哪一部分應(yīng)該可視化：正向模式，反向模式，或兩者結(jié)合。 mxDy!:@=
tPFV6n
i
 O:k@'& |bB..b 尋找組件內(nèi)部光場(chǎng)分析器： FMM |A0kbC.
|
