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- 注冊時間2020-06-19
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摘要 E{[Y8U1n @k{q[6c2n 組件內(nèi)部光場分析器: FMM使用戶能夠研究微觀和納米結(jié)構(gòu)內(nèi)的電磁場分布。為此,通過應(yīng)用傅里葉模態(tài)法/嚴(yán)格耦合波分析(FMM/RCWA)計算任意周期結(jié)構(gòu),包括透射和反射光柵、介電或金屬光柵。也可以指定領(lǐng)域的哪一部分應(yīng)該可視化:正向模式,反向模式,或兩者結(jié)合。 o@N[O^Q
V DTH}=r- a&0g0n6 Sed8Q-m 尋找組件內(nèi)部光場分析器: FMM AmC9qk8Q c/ImK`:)4a ~S<aIk0l A{4,ih"5 組件內(nèi)部光場分析器: FMM是光柵光學(xué)設(shè)置的專用功能,它提供了光柵結(jié)構(gòu)內(nèi)部電磁場的可視化。 :[+8(~| za &[{sA; $}vzBuWHwN 評估模式 |=ph&9 x*:VE57,z JmDxsb^ V|@bITJ?7 評估區(qū)域 "Y^j=?1k LU;zpXg\ bvJ@H
Z$ {St- 光柵類型 VoYL}67c 9]Ue%%vM 1K#[Ef4 dhA~Yu 光柵表面的采樣 5.ab/uk;M 1#cTk 7b08Lo7b 7w2$?k',- 光柵表面的采樣 R~iv%+ 9,~7,Py
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