帖子
勛章
關注
任務
結構深、角度大、反射差？用共聚焦顯微鏡就對啦！  一、結構深、角度大 電子產品中一些光學薄膜表面存在一些特殊的微結構，這些結構表現為窄而深的“V形”、“金字塔”。白光干涉儀在測量此類結構時，由于形貌陡峭、角度大，無法形成干涉條紋信號，或條紋寬度過窄而無法準確地解調出深度信息。VT6000系列共聚焦顯微鏡基于針孔點光源的共軛共焦原理，其依托弱光信號解析算法可以完整重建出近70°陡峭的復雜的結構形狀。    二、反射差、信號弱 碳纖維紙類的表面反射率低，結構復雜且呈立體狀。白光干涉儀因其對樣品表面反射形成的干涉條紋光信號對比度要求較高，而碳紙表面纖維絲的立體角度大，導致部分位置因反射率低形成的干涉條紋對比度較低甚至無法形成干涉條紋，從而難以解調出深度信息。VT6000系列共聚焦顯微鏡在此展現出其對弱光信號解析能力優(yōu)勢，對樣件表面的低反射率特性適應能力更強。  中圖儀器以其自主研發(fā)的共聚焦顯微鏡，與早前推出的白光干涉儀一起，構成光學3D顯微測量領域的姊妹雙姝，為國內超精密加工與微納制造領域提供專業(yè)的3D顯微形貌檢測方案。 -—————————————— 中圖儀器 ——————————————— 是一家專業(yè)的幾何量測量儀器制造商，旗下有專門的微納檢測儀器事業(yè)部，目前有SuperView系列光學3D表面輪廓儀、VT6000系列共聚焦顯微鏡、CP系列臺階儀等三大類納米級3D測量產品。憑借著多年在客戶端應用場景下的錘煉，在3D顯微測量領域積累了豐富的開發(fā)與應用經驗。多年的自主開發(fā)工作，公司在納米傳動與掃描技術、白光干涉與高精度3D重建技術、尼普科夫轉盤共聚焦系統(tǒng)、超分辨率電容傳感掃描技術、超大區(qū)域無縫縫合技術等多個涉及到光、機、電、算交叉學科的領域積累了雄厚的技術實力。參與過多項國家重大科研項目的攻關工作并順利通過驗收。作為一家銷售服務網絡遍布全國的微納檢測儀器制造商，中圖儀器始終致力于為客戶提供專業(yè)的技術服務和優(yōu)質的產品解決方案。  |
