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    [技術(shù)]使用干涉儀的光學(xué)測量 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-10-12
    關(guān)鍵詞: 干涉儀光學(xué)測量
    光學(xué)計量學(xué)是精確測量的重要技術(shù)。例如,它經(jīng)常被用于表面測試,因此在質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉進行建模,并將不同的光學(xué)表面和系統(tǒng)部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。 F_8nxQ-  
    =bJj;bc'5  
    Mach-Zehnder干涉儀 A;e[-5@  
    C$X )I~M  
    我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀,并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。 N3P!<J/tc