1. 摘要
Ayqs~&{ tg#jjXV\0p 高NA物鏡廣泛用于光刻,顯微等技術。因此,聚焦
仿真中考慮光的矢量性質(zhì)至關重要。
VirtualLab可以非常便捷地對此類
鏡頭進行
光線追跡和場追跡分析。通過場追跡,可以清楚地觀察由于矢量效應引起的聚焦
光斑失對稱現(xiàn)象。利用
相機探測器和電磁場探測器能夠?qū)劢箙^(qū)域進行靈活全面的研究,進而加深對矢量效應的理解。
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i_AD3Jrs C}xfo}i 2. 建模任務
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L,#YP#O,j ,#,K_oz 3. 概述
$+44US @aUNyyVP 示例
系統(tǒng)包含了高數(shù)值
孔徑物鏡 1/:vFX 下一步,我們將闡述如何遵循VirtualLab中推薦的工作流程執(zhí)行示例系統(tǒng)的仿真。
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-nC&t~sD @Nh}^D >j 4. 光線追跡仿真
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vN- 首先,選擇“Ray Tracing System Analyzer”作為仿真引擎。
PV"\9OIKb. 點擊“Go!”。
LXby(|<j 隨即獲得3D光線追跡結果
W9c&"T9JT ATc!c +
+0ukLc@ A#I&&qZ 然后,選擇“Ray Tracing”作為仿真引擎。
Wll0mtv 點擊“Go!”。
[olSgq!3 隨即獲得點列圖(2D光線追跡結果)。
g_l-@ 6vNn;-gg.
cyWb*Wv 5. 場追跡仿真
!+@70|gFF C,>n 轉(zhuǎn)換到場追跡,并選擇“Field Tracing 2nd Generation”作為仿真引擎。
u?SwGXi~8 點擊“Go!”。
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