我們提出了一種處理
傅里葉變換的方法，其并不需要
二次多項式相位項的抽樣，而是用解析的方法處理。我們提出該理論的同時也給出了幾個例子證明其潛力。
GNqw]@'Yf r~z-l, 1.簡介
%7Z _Hw M SoLx ' < 物理光學建模需要頻繁地從空間轉換到角頻域，反之亦然。這可以由電場和磁場分量的傅里葉變換得到。所以，快速傅里葉變換（FFT）算法成了快速
物理光學建模的支柱[1]。FFT技術的數(shù)值計算量與場分量復振幅所需采樣點的數(shù)量近似成線性關系。在光學中，我們經(jīng)常處理有強波陣面相位的場分量，例如：球形。但是由于2π模，平滑的波陣面相位的復抽樣導致了大量的數(shù)值計算工作，甚至在FFT中也是如此。
)Rn}4)9!iT *;(LKRV 2.理論
,;'9PsIS^ 2.1 場的表征：提取二次相位
VieC+Kk T c4N\Cy 我們從空間域的符號開始，在本文中我們使用符號
對應6個場分量，也就是V = (E, H)：
SY["dcx+ Ni'vz7j 
(1)
OO] ~\j 在公式1中，我們假設場
有兩部分：
衍射場
和一個平滑的波陣面相位exp(iψ(ρ))。對于得到的結果，我們從波陣面相位中提取二次相位exp(iψ(ρ))并且將余下的部分認為是余項場
。假設exp(iψ(ρ))可由其實數(shù)系數(shù)C和D = (Dx, Dy)給出：
ot]E\g+! kz(%8qi8& 
(2)
顯然，在強二次相位情況中，全場
比余項場需要更多的抽樣量。所以，我們的目標是通過FFT且無二次相位項exp(iψ(ρ))抽樣的情況下，計算V(ρ)的傅里葉變換。
O$E3ry +? 9l@VxX68M 2.2.半解析傅里葉變換
+iir]"8 cn XIE{9M 從卷積定理可知：
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