茂萊光學(xué)“一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測量裝置”專利公布據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告,茂萊光學(xué)新獲得一項(xiàng)實(shí)用新型專利授權(quán),專利名為“一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測量裝置”,專利申請?zhí)枮镃N202321867057.2,授權(quán)日為2024年1月5日。 專利摘要:本實(shí)用新型公開了一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測量裝置,包括夾具主體、千分表,夾具主體兩側(cè)設(shè)有相互平行的上夾板和下夾板,上夾板和下夾板之間垂直設(shè)有兩組限位柱,上夾板在兩組限位柱之間的中心線上設(shè)有螺紋孔,千分表的探頭垂直穿過螺紋孔,并指向下夾板,下夾板上靠近上夾板一側(cè)設(shè)有調(diào)節(jié)柱和兩組定位柱,調(diào)節(jié)柱位于兩組定位柱之間中心線上,且與千分表的探頭同軸對齊。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中在測量大尺寸透鏡邊沿厚度差時(shí),為了保證透鏡外圈與旋轉(zhuǎn)臺同軸度精度,對透鏡進(jìn)行敲擊,容易造成透鏡平面磨損,影響表面光潔度,同時(shí)費(fèi)時(shí)費(fèi)力,對旋轉(zhuǎn)臺的平面精度要求高的問題。 |