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茂萊光學“一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測量裝置”專利公布

發(fā)布:cyqdesign 2024-01-08 09:49 閱讀:259

據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告,茂萊光學新獲得一項實用新型專利授權(quán),專利名為“一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測量裝置”,專利申請?zhí)枮镃N202321867057.2,授權(quán)日為2024年1月5日。

專利摘要:本實用新型公開了一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測量裝置,包括夾具主體、千分表,夾具主體兩側(cè)設(shè)有相互平行的上夾板和下夾板,上夾板和下夾板之間垂直設(shè)有兩組限位柱,上夾板在兩組限位柱之間的中心線上設(shè)有螺紋孔,千分表的探頭垂直穿過螺紋孔,并指向下夾板,下夾板上靠近上夾板一側(cè)設(shè)有調(diào)節(jié)柱和兩組定位柱,調(diào)節(jié)柱位于兩組定位柱之間中心線上,且與千分表的探頭同軸對齊。本實用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中在測量大尺寸透鏡邊沿厚度差時,為了保證透鏡外圈與旋轉(zhuǎn)臺同軸度精度,對透鏡進行敲擊,容易造成透鏡平面磨損,影響表面光潔度,同時費時費力,對旋轉(zhuǎn)臺的平面精度要求高的問題。

關(guān)鍵詞: 茂萊光學透鏡厚度差
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ka2012 2024-01-08 12:37
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