華海清科“一種用于CMP的光學(xué)測(cè)量裝置和化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備”據(jù)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告,華海清科股份有限公司取得一項(xiàng)名為“一種用于CMP的光學(xué)測(cè)量裝置和化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備”,授權(quán)公告號(hào)CN220389073U,申請(qǐng)日期為2023年7月。 專利摘要顯示,本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于CMP的光學(xué)測(cè)量裝置和化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,所述光學(xué)測(cè)量裝置包括:在線光學(xué)測(cè)量組件和參考光學(xué)測(cè)量組件,所述在線光學(xué)測(cè)量組件包括用于測(cè)量晶圓的非金屬膜厚的第一光學(xué)傳感器和第一窗口,所述參考光學(xué)測(cè)量組件包括用于獲得校準(zhǔn)光強(qiáng)的第二光學(xué)傳感器、第二窗口、校準(zhǔn)片和遮擋組件。 |