據(jù)國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，利揚(yáng)芯片新獲得一項(xiàng)發(fā)明專利授權(quán)，專利名為“一種基于FPGA的光學(xué)芯片測(cè)試裝置和方法”，專利申請(qǐng)?zhí)枮?CN202110810588.7，授權(quán)日為 2024 年4月19日。

專利摘要：本發(fā)明公開一種基于 FPGA 的光學(xué)芯片測(cè)試裝置及方法，本發(fā)明利用 FPGA 板分析來自上位機(jī)的測(cè)試激勵(lì)指令，以配置芯片的工作狀態(tài)；在芯片生成測(cè)試數(shù)據(jù)后，F(xiàn)PGA 板處理接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)以生成測(cè)試結(jié)果，并將測(cè)試結(jié)果發(fā)送至上位機(jī)。本發(fā)明通過在 FPGA 板上完成測(cè)試配置數(shù)據(jù)的生成、測(cè)試數(shù)據(jù)的處理以及測(cè)試結(jié)果的生成，不需要將大量測(cè)試數(shù)據(jù)返回上位機(jī)作處理，精簡了傳輸?shù)臏y(cè)試數(shù)據(jù)，只需要 FPGA 板將測(cè)試結(jié)果傳輸至上位機(jī)顯示即可，大大地減少了數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間，提高了測(cè)試效率。由于 ATE 價(jià)格昂貴，采用 FPGA 板替代 ATE 減少了測(cè)試成本。