摘要 |QMA@Mx uS<_4A;sD, 在我們的上一期技術(shù)簡(jiǎn)訊中,我們將焦點(diǎn)放在
光纖耦合設(shè)置的
參數(shù)優(yōu)化上,采用快速物理
光學(xué)建模和設(shè)計(jì)
軟件 VirtualLab Fusion 為您提供的用戶(hù)友好型工具,以實(shí)現(xiàn)光纖耦合的最大效率,。然而,實(shí)踐中良好的
光學(xué)設(shè)計(jì)的特征不僅在于可以最大化特定評(píng)價(jià)函數(shù)的參數(shù)的最佳組合。另一個(gè)關(guān)鍵方面是它的穩(wěn)健性:由于設(shè)計(jì)過(guò)程中假設(shè)的條件在現(xiàn)實(shí)環(huán)境中無(wú)法完美滿(mǎn)足,因此合乎邏輯的下一步是分析
系統(tǒng)幾何形狀的微小偏差如何影響整體結(jié)果。
?Elg?)os T8XY fcc*h 為此,VirtualLab Fusion 中的參數(shù)運(yùn)行允許用戶(hù)執(zhí)行參數(shù)掃描。作為一個(gè)例子,我們分析了設(shè)計(jì)良好的光纖耦合
透鏡在不同
公差因素下的耦合效率,例如光纖末端位置的橫向偏移和耦合透鏡的傾斜。此外,下面提供了對(duì)參數(shù)運(yùn)行的掃描模式的深入研究,其中研究了參數(shù)空間的二維區(qū)域(具有結(jié)果可視化的其他可能性)。
VWi2(@R^ 光纖耦合裝置的公差分析 =X1?_~}
m"d/b~q <7)Fh*W@ 在光纖耦合光學(xué)裝置中,耦合效率是根據(jù)光纖末端位置偏移和透鏡傾斜等公差因素進(jìn)行分析的。
WVX`< 參數(shù)運(yùn)行掃描模式
s_ bR]G U)D[]BVg |`O7nOM Parameter Run 文檔的掃描模式會(huì)生成一系列指定參數(shù)變化的所有組合的
模擬,并提供適合的輸出選項(xiàng)。