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摘要 ]x RM&=)<
eg(6^:z?f
 QPx_- gQ'zW 干涉測量法是一項用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 ,z;cbsV-{
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}: 建模任務(wù) 8u6:=fxb
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Ct "D63I|O) 由于組件傾斜引起的干涉條紋 ]s'Q_wh_-v
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