-
UID:317649
-
- 注冊時間2020-06-19
- 最后登錄2024-11-15
- 在線時間1524小時
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
摘要 3[_zz;Y*d {"rYlN7, O+f'Ql hYvWD.c} 干涉測量法是一項用于光學測量的重要技術。它被廣泛應用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例,在非序列場追跡技術的幫助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 M~h^~:Lk +K2p2Dw(k 建模任務 dd?ZQ:n `1xJ1z# _;zIH5 H +"yt/9AO 由于組件傾斜引起的干涉條紋 |.]g&m)y^h YRU1^=v i>elK<R4 ]h3{MTr/ 由于偏移傾斜引起的干涉條紋 {OIktG2gZ s?j
|