摘要
R-rCh . `uo, __y 掃描
干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過(guò)利用白光
光源的低相干性，僅當(dāng)光程長(zhǎng)度差在相干長(zhǎng)度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的
顯微鏡測(cè)量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。
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KrcgIB8X XIAeCU 建模任務(wù)
VK:8 Nk_y 1J}8sG2` o' 'wCr% 仿真干涉條紋
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