摘要
PCH$) F4^ m("KLp8 掃描
干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光
光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實現(xiàn)精確的
顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。
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|Go-2G NJ$Qm.S 仿真干涉條紋
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模型[教程視頻]
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