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摘要 ~5LlIpf36| @%Y$@Qb{ 高數(shù)值孔徑物鏡廣泛用于光學光刻、顯微鏡等。因此,在聚焦模擬中考慮光的矢量性質(zhì)是非常重要的。 VirtualLab非常容易支持這種鏡頭的光線和光場追跡分析。 通過光場追跡,可以清楚地展示不對稱焦斑,這源于矢量效應。 照相機探測器和電磁場探測器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,并且可以深入了解矢量效應。 j_L1KB* 0\XG;KA +Y;/10p d7
|3A 建模任務 eT8(O36% ~nO]R #+dF3]X(& t* eZe`| 入射平面波 P X/{ 波長 2.08 nm 0
_4p>v: 光斑直徑: 3mm V*]cF=W[A 沿x方向線偏振 anLSD/'4W i2$7nSQ9 如何進行整個系統(tǒng)的光線追跡分析? $&D$Uc`U> 如何計算包含矢量效應的焦點的強度分布? +pDZ,c, nO-1^HUl 概覽 '?7?"v •樣品系統(tǒng)預設(shè)為包含高數(shù)值孔徑物鏡。 <_XyHb- •接下來,我們將演示如何按照VirtualLab中推薦的工作流程對樣本系統(tǒng)進行模擬。 ig
G8L EVs.'Xg< {[B^~Y>Lr 光線追跡模擬 .A 12Co •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為模擬引擎。 =)tU]kp •點擊Go! g Mhn\ •獲得3D光線追跡結(jié)果。 G.Z4h/1< ^\|Hz\"* Y\#+-E $'m&RzZ 光線追跡模擬 |Uf[x[ •然后,選擇“光線追跡”(Ray Tracing)作為模擬引擎。 x-W6W •單擊Go! J*4byu| •結(jié)果,獲得點圖(2D光線追跡結(jié)果)。 W>jgsR79M {
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