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摘要 0h*Le .
c+m(Pk 高數(shù)值孔徑物鏡廣泛用于光學(xué)光刻、顯微鏡等。因此,在聚焦模擬中考慮光的矢量性質(zhì)是非常重要的。 VirtualLab非常容易支持這種鏡頭的光線和光場追跡分析。 通過光場追跡,可以清楚地展示不對稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。 照相機探測器和電磁場探測器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,并且可以深入了解矢量效應(yīng)。 QDQ"Sc06 {eaR,d~X
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\\KjiT' 建模任務(wù) NOXP}M DMG~56cTO,
s~A-qG> 208^Yu 入射平面波
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