一個(gè)膜系的吸收率是一個(gè)可以計(jì)算的
參數(shù),它能與反射率和透射率一起作為二維和三維圖的可選參數(shù)列出。此外,還有兩個(gè)工具可以處理吸收率,它們隱藏在設(shè)計(jì)分析部分,即Absorptance Rate和Total Absorptance。這兩個(gè)工具到底是做什么的?
^i3~i?\,P +Eil:Jz 吸收率是一種測量膜層損失能量的方法。嚴(yán)格地說,它應(yīng)該是轉(zhuǎn)化成熱量的東西,但通常只把它作為反射光和透射光中所缺少的東西的一種度量。因?yàn)榕c真正的吸收相比,大多數(shù)其他的損耗通常都很小,而且由于它們和吸收一樣,與電場振幅的平方成正比,所以任何差別都很小。不管怎樣,大多數(shù)
工程師都喜歡對總損失進(jìn)行衡量。對于Essential Macleod而言,
薄膜材料的消光系數(shù)就是與吸收相關(guān)的參數(shù)。它所代表的損失取決于它的測量方法。因此我們寫了一個(gè)
光學(xué)薄膜
zCrDbGvqF` 1=R+T+A (1) OiB*,TWV
xkv2#"*v 如果結(jié)果以百分比表示,則左側(cè)變?yōu)?00。這就是設(shè)計(jì)吸收率的計(jì)算方法。
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! wzID 現(xiàn)在讓我們考慮一層厚度為dt的薄層埋在膜層內(nèi)。每單位面積薄層中的
功率損失將是凈入射輻
照度(Ienter)和凈出射輻照度(Iexit)之間的差值。這可以通過各種方式進(jìn)行操作。
9N(<OY+Dgm d*%-r2K 將入射到整個(gè)涂層上的輻射強(qiáng)度設(shè)為I
incidence,薄片的吸收率為dA,勢吸收率為da。則
R} nY8zE (2)
zz ^2/l (3)
B_FfXFQm< 然后,膜層中的總吸收率簡單地是(2)在膜厚度上的積分。
z7+y{-{Z &1hJ?uM01 圖1顯示了使用具有無吸收低
折射率材料(SiO2)和輕微吸收的高折射率材料(TiO2)薄膜的窄帶
濾光片的一些結(jié)果。電場分布的平方很好地解釋了吸收率變化。勢吸收率幾乎相同,因?yàn)榉瓷渎蕿榱悖忧懊娌糠值奈战档土藟災(zāi)股系腎enter的值,因此膜層后部的吸收率逐漸增加。
{I s?>m4 ebk{p< 圖1.具有吸收高折射率材料和無吸收低折射率材料的窄帶濾光片的計(jì)算。由于反射率為零,吸收率和勢吸收率幾乎相同。