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光學(xué)測(cè)量>顯微 RzN9pAe nbdjk1E`~ 任務(wù)/系統(tǒng)視圖 )m.U"giG++ N_| '`]D .fD%*- ?`U=Ps 亮點(diǎn) W^N|+$g>H .Fm@OQr c`xgz#]v EN{o3@ O' 顯微鏡系統(tǒng)中光柵的全矢量分析 CCU<t
Q 在幾秒鐘內(nèi)對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)進(jìn)行快速高性能分析 tLo_lLn*~% 光線追跡和物理光學(xué)建模之間的簡(jiǎn)單切換 J0,;F9<C#X 52#Ac;Y 說明:光源 d{*e0 {`=k$1 g<PglRr" 10W6wIqK eGj[%pk .l +yK-BZ 說明:透鏡系統(tǒng) l{4rKqtX p@iU9K\, se&Q\!&M 說明:樣品結(jié)構(gòu) 6"<q{K jCp`woV S0mzDLgE Ji7<UJ30x 說明:探測(cè)器 IHcR/\mz ,#Mt10e{ OS sYmF sglH=0MP
!?5YXI, #9CLIYJAd 結(jié)果:3D光線追跡 2i)vT)~ #8@o%%Fd ^j]_MiA4 xj;V d34BJ< tzrvIVD 結(jié)果:光線追跡 ]oxi~TwY^ xA
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