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摘要 4`V&Yqwl |Zo36@s 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 0x&L'&SpN M3d%$q)<rW
)*.rl QQ=tiW 建模任務(wù) %l%2 hvGZ =yJV8%pa ~Kt+j o=lZl_5/u; 傾斜平面下的觀測(cè)條紋 7coVl$_Zl *
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jX5}@`z u<Ch]m+ 圓柱面下的觀測(cè)條紋 'w/S6j S,Qa\\~z OSJj^Y)W|
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