1. 國(guó)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀
Pw0Ci zsXoBD\h 嚴(yán)格地說(shuō),國(guó)外目前沒(méi)有專(zhuān)門(mén)命名為
半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn),只有有關(guān)普通
LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和與普通光源有關(guān)的照明方面的標(biāo)準(zhǔn)。普通LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有:
J;$N{"M KvPX=/&Zu ( 1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)
=PHIpFIuk ]aryV?!6 IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路
,Gk}"w -fI@])$9J ( 2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)
A'&n5)tb x35cW7R}T_ IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2:光電子器件—分類(lèi)特征及要素(1997-09)
%ir:ASk \dQx+f&t ( 3)IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)
mo{MR:>) sbj(|1,ac IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路
:!a2]-D} A5'NGt 零部件 5-3:光電子器件—測(cè)試方法(1997-08)
ig LMv+{ >gwz,{ ( 4)IEC60747-12-3 Semiconductor devices-part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)
u]+~VT1C,3 >odbOi+X IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3:光電子器件—顯示用
發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)(1998-02)
C;QAT -x8nQ%X ( 5)CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
{j5e9pg1L| rNjn~c CIE127-1997 LED測(cè)試方法(1997)
-Y
Bd, k3 I+>%uShm ( 6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements
:1XtvH I):!`R., CIE/ISO LED強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
Uw,2}yR [gy*`@w 國(guó)際照明委員會(huì)( CIE)1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測(cè)試方法 , 把 LED 強(qiáng)度測(cè)試確定為平均強(qiáng)度的概念,并且規(guī)定了統(tǒng)一的測(cè)試結(jié)構(gòu)和探測(cè)器大小,這樣就為 LED 準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì)奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127-1997 測(cè)試方法 并非國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì),目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展,許多新的
LED技術(shù)特性 CIE127-1997 LED測(cè)試方法 沒(méi)有涉及。
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PHA-9\jC{ 目前,隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,發(fā)達(dá)國(guó)家非常重視 LED測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)研究所(NIST)正在開(kāi)展LED測(cè)試方法的研究,準(zhǔn)備建立整套的LED測(cè)試方法和標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),許多國(guó)外大公司的研究和開(kāi)發(fā)人員正在積極參與國(guó)家和國(guó)際專(zhuān)業(yè)化組織,制訂半導(dǎo)體照明測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。如2002年10月28日,美國(guó)Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進(jìn)行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán),并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn),以推動(dòng)市場(chǎng)應(yīng)用。