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    [分享]LED標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀分析 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2008-01-15
    關(guān)鍵詞: LED
    1. 國(guó)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀 Pw0Ci  
    zsXoBD\h  
    嚴(yán)格地說(shuō),國(guó)外目前沒(méi)有專(zhuān)門(mén)命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn),只有有關(guān)普通 LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和與普通光源有關(guān)的照明方面的標(biāo)準(zhǔn)。普通LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有: J;$N{"M  
    KvPX=/&Zu  
    ( 1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992) =PHIpFIuk  
    ]aryV?!6  
    IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路 ,Gk}"w  
    -fI@])$9J  
    ( 2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09) A'&n5)tb  
    x35cW7R}T_  
    IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2:光電子器件—分類(lèi)特征及要素(1997-09) %ir:AS k  
    \dQx+f&t  
    ( 3)IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08) mo{MR:>)  
    sbj(|1,ac  
    IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路 :!a 2]-D}  
    A5'NGt  
    零部件 5-3:光電子器件—測(cè)試方法(1997-08) ig LMv+{  
    >gwz,{  
    ( 4)IEC60747-12-3 Semiconductor devices-part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02) u]+~VT1C,3  
    >odbOi+X  
    IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3:光電子器件—顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)(1998-02) C;QAT  
    -x8nQ%X  
    ( 5)CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997) {j5e9pg1L|  
    rNjn~c  
    CIE127-1997 LED測(cè)試方法(1997) -Y Bd, k3  
    I+>%uShm  
    ( 6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements :1XtvH  
    I):!`R.,  
    CIE/ISO LED強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) Uw,2}yR  
    [gy*`@w  
      國(guó)際照明委員會(huì)( CIE)1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測(cè)試方法 , 把 LED 強(qiáng)度測(cè)試確定為平均強(qiáng)度的概念,并且規(guī)定了統(tǒng)一的測(cè)試結(jié)構(gòu)和探測(cè)器大小,這樣就為 LED 準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì)奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127-1997 測(cè)試方法 并非國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì),目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展,許多新的 LED技術(shù)特性 CIE127-1997 LED測(cè)試方法 沒(méi)有涉及。 kg@>;(V&  
    PHA-9\jC{  
      目前,隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,發(fā)達(dá)國(guó)家非常重視 LED測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)研究所(NIST)正在開(kāi)展LED測(cè)試方法的研究,準(zhǔn)備建立整套的LED測(cè)試方法和標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),許多國(guó)外大公司的研究和開(kāi)發(fā)人員正在積極參與國(guó)家和國(guó)際專(zhuān)業(yè)化組織,制訂半導(dǎo)體照明測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。如2002年10月28日,美國(guó)Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進(jìn)行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán),并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn),以推動(dòng)市場(chǎng)應(yīng)用。