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德國DATARIUS公司涂層測厚儀及色彩分析儀 厚度測量儀適用于研發(fā)和半導(dǎo)體、FPD、納米技術(shù)、電子材料及特殊薄膜生產(chǎn)線中的薄膜測厚，例如在半導(dǎo)體行業(yè)，需根據(jù)圖樣精確地獲取晶圓表面的各個薄膜沉積。薄膜測量系統(tǒng)是用來監(jiān)控工序并通過測量薄膜的厚度決定產(chǎn)品的質(zhì)量。 |
德國DATARIUS公司涂層測厚儀及色彩分析儀厚度測量儀適用于研發(fā)和半導(dǎo)體、FPD、納米技術(shù)、電子材料及特殊薄膜生產(chǎn)線中的薄膜測厚，例如在半導(dǎo)體行業(yè)，需根據(jù)圖樣精確地獲取晶圓表面的各個薄膜沉積。薄膜測量系統(tǒng)是用來監(jiān)控工序并通過測量薄膜的厚度決定產(chǎn)品的質(zhì)量。 |