一. 薄膜設(shè)計中數(shù)理概念的引入 :7$\X[  
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光學(xué)薄膜設(shè)計的重大變革：Philip Baumeister于1958年提出將設(shè)計問題轉(zhuǎn)換為優(yōu)化問題來考慮。 IqhICC1V-  
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而優(yōu)化問題則由一系列設(shè)計參數(shù)（通常為層厚度）構(gòu)成的評價函數(shù)來表達(dá)，使評價函數(shù)最小化則為膜系設(shè)計的目標(biāo)。 T6h;Y  

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