一、
OptiLayer 模塊
q)zvePO# a9-;8`fCR OptiLayer 模塊的功能同大多數(shù)軟件差不多,不同處在于:1.能解決其它軟件不能再優(yōu)化的問題;2.運(yùn)算速度快,比同時(shí)期的同類軟件快數(shù)百倍。其具體原因可參考針式算法專題。
a9Rh ^o:5B%}#[ 二、OptiChar模塊
t$iU|^'uV ,1L^#?Q~ OptiChar模塊主要通過
鍍膜材料實(shí)測
光學(xué)特性
參數(shù)(某波段范圍內(nèi)的反射率和透過率曲線)給出一評(píng)估曲線,再通過在某一基底下,考察給定
薄膜理論中一些因素(厚度、折射率、消光系數(shù)和不均一性)時(shí),擬合出在當(dāng)前考察因素下,最接近鍍膜材料實(shí)測出的
光譜特性評(píng)估曲線的層材料光譜特性曲線,進(jìn)而給出此時(shí)的層材料模型(包含層材料的厚度、折射率、消光系數(shù)和不均一性)。擬合得越好則給出的層材料模型越接近當(dāng)前鍍膜條件下的實(shí)際情況。
9z}kkYk W#\4"'=I 且在考察和不考察某一因素時(shí),如果擬合狀況無多大變化,則說明當(dāng)前考察的光學(xué)特性(反射或透過)對(duì)該因素不敏感。即該因素對(duì)當(dāng)前考察的光學(xué)特性無多大影響。因而再利用該層材料作設(shè)計(jì)且為當(dāng)前考察的光學(xué)特性時(shí),可以忽略該因素的影響而不去考慮它。
6V/mR~F1r ~VF,qspO 如上表即薄膜理論中最重要的一些因素:不均一性、消光系數(shù)和表面粗糙度對(duì)某一層材料實(shí)際測得的光譜特性(反射和透過)的影響程度。由上表我們可知在利用該層材料模型做設(shè)計(jì)時(shí),若設(shè)計(jì)只考慮反射時(shí),則該三因素中只需考慮不均一性;同理若設(shè)計(jì)只考慮透過時(shí),則該三因素中需考慮不均一性和消光系數(shù)。
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