光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例：評估設(shè)計(jì)曲線 0n<(*bfW  
@ Zgl>
  
例:評估一四分之一波片的光譜特性: .KU
SNrs'  
D _bkUR1  
參數(shù)為：QWM@500,     12L     基底:GLASS(1.52) Dd5xXs+c  
$nfBvf  
層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). kToVBU$  
g<rKV+$6  
Evaluation：新建工作目錄：File_Problem，出現(xiàn)問題目錄(Problem directory),輸入目錄名稱，單擊OK. Oa}V>a  
>Z2,^5P{  
打開Datebase窗口并輸入基底和層材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出現(xiàn)Datebase窗口： yK&*,J |  

圖片:o1.jpg

N,/BudFo  
I>kiah*  
單擊Substrate或Layer Material可分別輸入基底和層材料，基底輸入：單擊NEW，輸入基底名稱， EOBs}M
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圖片:o2.jpg

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