《現(xiàn)行光學(xué)元件檢測與國際標(biāo)準(zhǔn)》重點介紹了光學(xué)元件檢測領(lǐng)域的近期進展、方法、技術(shù)和需求。全書共10章，主要論述了現(xiàn)代光學(xué)的發(fā)展對光學(xué)元件檢測的需求；計量概念與誤差及精度的必要知識；光學(xué)元件檢測基礎(chǔ)；光學(xué)元件的參數(shù)檢測和性能檢測的現(xiàn)行技術(shù)，側(cè)重對特殊元件、光學(xué)表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述；介紹了光學(xué)元件技術(shù)要求和檢測要求的國際標(biāo)準(zhǔn)（ISO10110）的最新內(nèi)容和相關(guān)的輔助資料�！冬F(xiàn)行光學(xué)元件檢測與國際標(biāo)準(zhǔn)》附錄匯總了光學(xué)檢測中4個常用的資料及相關(guān)的參考書籍。 20BU;D3  
《現(xiàn)行光學(xué)元件檢測與國際標(biāo)準(zhǔn)》可供從事光學(xué)、光學(xué)工程（尤其光學(xué)制造技術(shù)與檢驗）的科技人員與工藝技術(shù)人員參考，也可供大專院校有關(guān)專業(yè)的師生閱讀。 @D=i|f  

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