《現(xiàn)行
光學(xué)元件檢測(cè)與國(guó)際
標(biāo)準(zhǔn)》重點(diǎn)介紹了光學(xué)元件檢測(cè)領(lǐng)域的近期進(jìn)展、方法、技術(shù)和需求。全書共10章,主要論述了現(xiàn)代光學(xué)的發(fā)展對(duì)光學(xué)元件檢測(cè)的需求;計(jì)量概念與誤差及精度的必要知識(shí);光學(xué)元件檢測(cè)基礎(chǔ);光學(xué)元件的
參數(shù)檢測(cè)和性能檢測(cè)的現(xiàn)行技術(shù),側(cè)重對(duì)特殊元件、光學(xué)表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述;介紹了光學(xué)元件技術(shù)要求和檢測(cè)要求的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ISO10110)的最新內(nèi)容和相關(guān)的輔助
資料!冬F(xiàn)行光學(xué)元件檢測(cè)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)》附錄匯總了光學(xué)檢測(cè)中4個(gè)常用的資料及相關(guān)的參考書籍。
Ve9)?=! 《現(xiàn)行光學(xué)元件檢測(cè)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)》可供從事光學(xué)、光學(xué)工程(尤其光學(xué)制造技術(shù)與檢驗(yàn))的科技人員與工藝技術(shù)人員參考,也可供大專院校有關(guān)專業(yè)的師生閱讀。
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