隨著電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)尺寸越來越小，目前出現(xiàn)了兩個特別引人注目的問題︰一是可接觸的電路節(jié)點越來越少；二是像在線測試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。 .'lc[iI9)d  
　　通過遵守一定的規(guī)程（ DFT-Design for Testability ，可測試的設(shè)計），可以大大減少生產(chǎn)測試的準(zhǔn)備和實施費用。這些規(guī)程已經(jīng)過多年發(fā)展，當(dāng)然，若采用新的生產(chǎn)技術(shù)和組件技術(shù)，它們也要相應(yīng)的擴展和適應(yīng)。本文主要介紹電路可測試性的相關(guān)知識，以及如何提高電路可測試性。 &m5