隨著電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)尺寸越來越小，目前出現(xiàn)了兩個(gè)特別引人注目的問題︰一是可接觸的電路節(jié)點(diǎn)越來越少；二是像在線測(cè)試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測(cè)試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。 )/@KdEA:  
　　通過遵守一定的規(guī)程（ DFT-Design for Testability ，可測(cè)試的設(shè)計(jì)），可以大大減少生產(chǎn)測(cè)試的準(zhǔn)備和實(shí)施費(fèi)用。這些規(guī)程已經(jīng)過多年發(fā)展，當(dāng)然，若采用新的生產(chǎn)技術(shù)和組件技術(shù)，它們也要相應(yīng)的擴(kuò)展和適應(yīng)。本文主要介紹電路可測(cè)試性的相關(guān)知識(shí)，以及如何提高電路可測(cè)試性。 =o~+R\1ux+  
　　1、什么是可測(cè)試性 s 0Uid&qE  
　　可測(cè)試性的意義可理解為︰測(cè)試工程師可以用盡可能簡(jiǎn)單的方法來檢測(cè)某種組件的特性，看它能否滿足預(yù)期的功能。簡(jiǎn)單地講就是︰ dxAGO(  
　　l．檢測(cè)產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范的方法簡(jiǎn)單化到什幺程度？ 7;q0'_G  
　　編制測(cè)試程序能快到什幺程度？ 9DhM 9VU  
　　發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品故障全面化到什幺程度？ Hq 5#.rZ#  
　　接入測(cè)試點(diǎn)的方法簡(jiǎn)單化到什幺程度？ m`-:j"]b$  
　　為了達(dá)到良好的可測(cè)試必須考慮機(jī)械方面和電氣方面的設(shè)計(jì)規(guī)程。當(dāng)然，要達(dá)到最佳的可測(cè)試性，需要付出一定代價(jià)，但對(duì)整個(gè)工藝流程來說，它具有一系列的好處，因此是產(chǎn)品能否成功生產(chǎn)的重要前提。 ,.p 36ZLP  
　　2、為什么要發(fā)展測(cè)試友好技術(shù) [-VH%OM  
　　過去，若某一產(chǎn)品在上一測(cè)試點(diǎn)不能測(cè)試，那幺這個(gè)問題就被簡(jiǎn)單地推移到直一個(gè)測(cè)試點(diǎn)上去。如果產(chǎn)品缺陷在生產(chǎn)測(cè)試中不能發(fā)現(xiàn)，則此缺陷的識(shí)別與診斷也會(huì)簡(jiǎn)單地被推移到功能和系統(tǒng)測(cè)試中去。 hGY-d}npAJ  
　　相反地，今天人們?cè)噲D盡可能提前發(fā)現(xiàn)缺陷，它的好處不僅僅是成本低，更重要的是今天的產(chǎn)品非常復(fù)雜，某些制造缺陷在功能測(cè)試中可能根本檢查不出來。例如某些要預(yù)先裝軟件或編程的組件，就存在這樣的問題。（如快閃存儲(chǔ)器或 ISPs ︰ In-System Programmable Devices 系統(tǒng)內(nèi)可編程器件）。這些組件的編程必須在研制開發(fā)階段就計(jì)劃好，而測(cè)試系統(tǒng)也必須掌握這種編程。 oQ r.cKD ?  
　　測(cè)試友好的電路設(shè)計(jì)要費(fèi)一些錢，然而，測(cè)試?yán)щy的電路設(shè)計(jì)費(fèi)的錢會(huì)更多。測(cè)試本身是有成本的，測(cè)試成本隨著測(cè)試級(jí)數(shù)的增加而加大；從在線測(cè)試到功能測(cè)試以及系統(tǒng)測(cè)試，測(cè)試費(fèi)用越來越大。如果跳過其中一項(xiàng)測(cè)試，所耗費(fèi)用甚至?xí)�更大。一般的�?guī)則是每增加一級(jí)測(cè)試費(fèi)用的增加系數(shù)是 10 倍。通過測(cè)試友好的電路設(shè)計(jì)，可以及早發(fā)現(xiàn)故障，從而使測(cè)試友好的電路設(shè)計(jì)所費(fèi)的錢迅速地得到補(bǔ)償。 aC2Vz9e  
　　3、文件資料怎樣影響可測(cè)試性 4)tY6ds)r|  
　　只有充分利用組件開發(fā)中完整的數(shù)據(jù)資料，才有可能編制出能全面發(fā)現(xiàn)故障的測(cè)試程序。在許多情況下，開發(fā)部門和測(cè)試部門之間的密切合作是必要的。文件資料對(duì)測(cè)試工程師了解組件功能，制定測(cè)試戰(zhàn)略，有無可爭(zhēng)議的影響。 [;,E cw^  
　　為了繞開缺乏文件和不甚了解組件功能所產(chǎn)生的問題，測(cè)試系統(tǒng)制造商可以依靠軟件工具，這些工具按照隨機(jī)原則自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試模式，或者依靠非矢量相比，非矢量方法只能算作一種權(quán)宜的解決辦法。 #Mn?Nn  
　　測(cè)試前的完整的文件資料包括零件表，電路設(shè)計(jì)圖數(shù)據(jù)（主要是 CAD 數(shù)據(jù)）以及有關(guān)務(wù)組件功能的詳細(xì)資料（如數(shù)據(jù)表）。只有掌握了所有信息，才可能編制測(cè)試矢量，定義組件失效樣式或進(jìn)行一定的預(yù)調(diào)整。 'yX\y 6I  
　　某些機(jī)械方面的數(shù)據(jù)也是重要的，例如那些為了檢查組件的焊接是否良好及定位是否所需要的數(shù)據(jù)。最后，對(duì)于可編程的組件，如快閃存儲(chǔ)器， PLD 、 FPGA 等，如果不是在最后安裝時(shí)才編程，是在測(cè)試系統(tǒng)上就應(yīng)編好程序的話，也必須知道各自的編程數(shù)據(jù)�？扉W組件的編程數(shù)據(jù)應(yīng)完整無缺。如快閃芯片含 16Mbit 的數(shù)據(jù)，就應(yīng)該可以用到 16Mbit ，這樣可以防止誤解和避免地址沖突。例如，如果用一個(gè) 4Mbit 存儲(chǔ)器向一個(gè)組件僅僅提供 300Kbit 數(shù)據(jù)，就可能出現(xiàn)這種情況。當(dāng)然數(shù)據(jù)應(yīng)準(zhǔn)備成流行的標(biāo)準(zhǔn)格式，如 Intel 公司的 Hex 或 Motorola 公司的 S 記錄結(jié)構(gòu)等。大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，只要能夠?qū)�快閃或 ISP 組件進(jìn)行編程，是可以解讀這些格式的。前面所提到的許多信息，其中許多也是組件制造所必須的。當(dāng)然，在可制造性和可測(cè)試性之間應(yīng)明確區(qū)別，因?yàn)檫@是完全不同的概念，從而構(gòu)成不同的前提。 pP":,8Q{  
　　4、良好的可測(cè)試性的機(jī)械接觸條件 i /[{xRXiR  
　　如果不考慮機(jī)械方面的基本規(guī)則，即使在電氣方面具有非常良好的可測(cè)試性的電路，也可能難以測(cè)試。許多因素會(huì)限制電氣的可測(cè)試性。如果測(cè)試點(diǎn)不夠或太小，探針床適配器就難以接觸到電路的每個(gè)節(jié)點(diǎn)。如果測(cè)試點(diǎn)位置誤差和尺寸誤差太大，就會(huì)產(chǎn)生測(cè)試重復(fù)性不好的問題。在使用探針床配器時(shí)，應(yīng)留意一系列有關(guān)套牢孔與測(cè)試點(diǎn)的大小和定位的建議。 i*N2@Z[  
　　5、最佳可測(cè)試性的電氣前提條件 'uL$j
=vB  
　　電氣前提條件對(duì)良好的可測(cè)試性，和機(jī)械接觸條件一樣重要，兩者缺一不可。一個(gè)門電路不能進(jìn)行測(cè)試，原因可能是無法通過測(cè)試點(diǎn)接觸到激活輸入端，也可能是激活輸入端處在封裝殼內(nèi)，外部無法接觸，在原則上這兩情況同樣都是不好的，都使測(cè)試無法進(jìn)行。在設(shè)計(jì)電路時(shí)應(yīng)該注意，凡是要用在線測(cè)試法檢測(cè)的組件，都應(yīng)該具備某種機(jī)理，使各個(gè)組件能夠在電氣上絕緣起來。這種機(jī)理可以借助于禁止輸入端來實(shí)現(xiàn)，它可以將組件的輸出端控制在靜態(tài)的高歐姆狀態(tài)。 i4D]>  
　　雖然幾乎所有的測(cè)試系統(tǒng)都能夠逆驅(qū)動(dòng)（ Backdriving ）方式將某一節(jié)點(diǎn)的狀態(tài)帶到任意狀態(tài)，但是所涉及的節(jié)點(diǎn)最好還是要備有禁止輸入端，首先將此節(jié)點(diǎn)帶到高歐姆狀態(tài)，然后再“平緩地”加上相應(yīng)的電平。 {U_ ,y(V  
　　同樣，節(jié)拍發(fā)生器總是通過激活引線，門電路或插接電橋從振蕩器后面直接斷開。激活輸入端決不可直接與電路相連，而是通過 100 歐姆的電阻與電路連接。每個(gè)組件應(yīng)有自己的激活，復(fù)位或控制引線腳。必須避免許多組件的激活輸入端共享一個(gè)電阻與電路相連。這條規(guī)則對(duì)于 ASIC 組件也適用，這些組件也應(yīng)有一個(gè)引線腳，通過它，可將輸出端帶到高歐姆狀態(tài)。如果組件在接通工作電壓時(shí)可實(shí)行復(fù)位，這對(duì)于由測(cè)試器來引發(fā)復(fù)位也是非常有幫助的。在這種情況下，組件在測(cè)試前就可以簡(jiǎn)單地置于規(guī)定的狀態(tài)。 "KK}}$>  
　　不用的組件引線腳同樣也應(yīng)該是可接觸的，因?yàn)樵谶@些地方未發(fā)現(xiàn)的短路也可能造成組件故障。此外，不用的門電路往往在以后會(huì)被利用于設(shè)計(jì)改進(jìn)，它們可能會(huì)改接到電路中來。所以同樣重要的是，它們從一開始就應(yīng)經(jīng)過測(cè)試，以保證其工件可靠。 v\6.#>NQ  
　　6、改進(jìn)可測(cè)試性 m<3. X"-  
　　使用探針床適配器時(shí)，改進(jìn)可測(cè)試性的建議 13/,^?  
　　套牢孔 呈對(duì)角線配置 C('D]u$Hdk  
　　定位精度為± 0.05mm （± 2mil ） WuY#Kx~2  
　　直徑精度為± 0.076/-0mm （ +3/-0mil ） !Z2h?..O  
　　相對(duì)于測(cè)試點(diǎn)的定位精度為± 0.05mm （± 2mil ） ? bWc<]  
　　離開組件邊緣距離至少為 3mm #Y7iJPO  
　　不可穿通接觸 h SS9mQ  
　　測(cè)試點(diǎn) s3JzYDpy  
　　盡可能為正方形 :2c(.-[`  
　　測(cè)試點(diǎn)直徑至少為 0.88mm （ 35mil ） 6Zn[l,\  
　　測(cè)試點(diǎn)大小精度為± 0.076mm （± 3mil ） cI8\d 4/py  
　　測(cè)試點(diǎn)之間間隔精度為± 0.076mm （± 3mil ） 8Gy]nD  
　　測(cè)試點(diǎn)間隔盡可能為 2.5mm oQ]FyV
 
　　鍍錫，端面可直接焊接 D.{vuftu  
　　距離組件邊緣至少為 3mm TDR|*Cs  
　　所有測(cè)試點(diǎn)應(yīng)可能處于插件板的背面 w,j!%N  
　　測(cè)試點(diǎn)應(yīng)均勻布在插件板上 P{K\}+9F   
　　每個(gè)節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)（ 100 ％信道） 1YMi4.  
　　備用或不用的門電路都有測(cè)試點(diǎn) O
XM=@B<"  
　　供電電源的多外測(cè)試點(diǎn)分布在不同位置