隨著電子產品結構尺寸越來越小，目前出現了兩個特別引人注目的問題︰一是可接觸的電路節(jié)點越來越少；二是像在線測試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應用受到限制。為了解決這些問題，可以在電路布局上采取相應的措施，采用新的測試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。 Oydmq,sVe(  
　　通過遵守一定的規(guī)程（ DFT-Design for Testability ，可測試的設計），可以大大減少生產測試的準備和實施費用。這些規(guī)程已經過多年發(fā)展，當然，若采用新的生產技術和組件技術，它們也要相應的擴展和適應。本文主要介紹電路可測試性的相關知識，以及如何提高電路可測試性。  ;I@L  
　　1、什么是可測試性 ?i
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　　可測試性的意義可理解為︰測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種組件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是︰ lH>XIEj  
　　l．檢測產品是否符合技術規(guī)范的方法簡單化到什幺程度？ oKJ7i,xT  
　　編制測試程序能快到什幺程度？ odn`%ok  
　　發(fā)現產品故障全面化到什幺程度？ meD (ja  
　　接入測試點的方法簡單化到什幺程度？ YU,:3{9,  
　　為了達到良好的可測試必須考慮機械方面和電氣方面的設計規(guī)程。當然，要達到最佳的可測試性，需要付出一定代價，但對整個工藝流程來說，它具有一系列的好處，因此是產品能否成功生產的重要前提。 fb;"J+
  
　　2、為什么要發(fā)展測試友好技術 c9@jyq_H?  
　　過去，若某一產品在上一測試點不能測試，那幺這個問題就被簡單地推移到直一個測試點上去。如果產品缺陷在生產測試中不能發(fā)現，則此缺陷的識別與診斷也會簡單地被推移到功能和系統(tǒng)測試中去。 .O.R  
　　相反地，今天人們試圖盡可能提前發(fā)現缺陷，它的好處不僅僅是成本低，更重要的是今天的產品非常復雜，某些制造缺陷在功能測試中可能根本檢查不出來。例如某些要預先裝軟件或編程的組件，就存在這樣的問題。（如快閃存儲器或 ISPs ︰ In-System Programmable Devices 系統(tǒng)內可編程器件）。這些組件的編程必須在研制開發(fā)階段就計劃好，而測試系統(tǒng)也必須掌握這種編程。 @h,$&=HY  
　　測試友好的電路設計要費一些錢，然而，測試困難的電路設計費的錢會更多。測試本身是有成本的，測試成本隨著測試級數的增加而加大；從在線測試到功能測試以及系統(tǒng)測試，測試費用越來越大。如果跳過其中一項測試，所耗費用甚至會更大。一般的規(guī)則是每增加一級測試費用的增加系數是 10 倍。通過測試友好的電路設計，可以及早發(fā)現故障，從而使測試友好的電路設計所費的錢迅速地得到補償。 <5}du9